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脑电 ERP 分析工具
脑电 ERP 分析工具
插件简介
脑电 ERP 分析工具面向采集完成后的离线处理流程，用于对事件相关电位数据进行清洗、分段、叠加平均、成分测量和条件对比。它适合用于 P300、N170、N200、ERN、LPP 等常见 ERP 成分分析。
核心功能
- 数据预处理：支持带通滤波、陷波滤波、重参考和坏道标记。
- 事件分段：根据 trigger 自动切分 epoch，支持自定义时间窗。
- 基线校正：对每个 epoch 进行基线区间校正。
- 伪迹处理：基于振幅阈值、峰峰值和手动标记剔除异常试次。
- 叠加平均：按条件、通道和被试维度生成 ERP 平均波形。
- 成分测量：提取峰值、潜伏期、平均振幅和时间窗积分指标。
- 条件对比：支持多条件 ERP 波形叠加、差异波和统计表导出。
典型分析流程
- 导入 EEG 数据和事件标记。
- 设置滤波、重参考和 epoch 时间窗。
- 执行基线校正和伪迹剔除。
- 按实验条件叠加平均 ERP 波形。
- 在指定通道和时间窗内提取 ERP 成分指标。
- 导出图表、统计表和分析报告。
常用参数
| 参数 | 示例 | 说明 |
|---|---|---|
| Epoch 时间窗 | -200 ms 至 800 ms | 相对事件触发点的分析区间 |
| 基线区间 | -200 ms 至 0 ms | 用于基线校正的时间段 |
| 带通滤波 | 0.1 Hz 至 30 Hz | 常见 ERP 预处理设置 |
| 伪迹阈值 | +/- 100 uV | 剔除异常振幅试次 |
| 测量窗口 | 300 ms 至 500 ms | 如 P300 成分的平均振幅窗口 |
输出内容
ERP 平均波形
条件差异波
峰值与潜伏期表
平均振幅统计表
分析报告图表
适用场景
- 认知实验 ERP 数据分析
- P300 注意与决策相关成分测量
- N170 面孔加工成分分析
- 错误相关负波 ERN 分析
- 多条件、多被试 ERP 波形对比